| 000 | 01047nam a2200241 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000054857 | ||
| 003 | AM-YEHGA | ||
| 005 | 20240826192318.0 | ||
| 008 | 001101s1972 ru |||||||||||||||||rus d | ||
| 040 | _aAM-YEHGA | ||
| 041 | 1 |
_arus _heng |
|
| 100 | 1 | _aМюллер, Э. | |
| 245 | 1 | 0 |
_aАвтоионная микроскопия : _b(Принципы и применение) / _cЭ. Мюллер, Т. Цонь ; Пер. с англ. В.А. Алексеева и др. ; Под ред. Л.П. Потапова. |
| 260 |
_aМосква : _bМеталлургия, _c1972. |
||
| 300 |
_a358 с. : _bрис. |
||
| 504 | _aБиблиогр. 228 назв. | ||
| 534 |
_pОригинал на англ. : _tField-Ion Microscopy / _aE.W. Muller, T.T. Tsong - _cNew York : American Elsevier Publishing Company, Inc. : 1969 |
||
| 650 | 1 | 4 | _aЭлектронная микроскопия |
| 700 | 1 | _aЦонь, Т. | |
| 700 | 1 |
_aАлексеев, В.А. _eпер. _4trl |
|
| 700 | 1 |
_aПотапов, Л.П. _eред. _4edt |
|
| 942 |
_2udc _cBK |
||
| 999 |
_c15541 _d15541 |
||