TY - BOOK AU - Левин,Б.М. TI - Контактный метод измерения микрогеометрии поверхности: Основы метода и оптические профилографы PY - 1950/// CY - Москва, Ленинград PB - Машгиз KW - Измерение плоскостей и сечений N1 - Библиогр.: c. 189-190 ER -