(NwYSOKOSKOROSTNAQ FOTOGRAFIQ(B, (NFOTONIKA I METROLOGIQ BYSTROPROTEKA@]IH PROCESSOW (B:s 13-(NAQ wSESO@ZNAQ NAU^NO(B-(NTEHNI^ESKAQ KONFERENCIQ(B, 30 (NNOQBRQ (B- 3 (NDEKABRQ(B, (NmOSKWA (B1987 (NG(B.: (NtEZISY DOKLADOW (B/s - (NwSESO@ZNAQ NAU^NO(B-(NTEHNI^ESKAQ KONFERENCIQs 1987 ; (NmOSKWA(B)s; (NwSESO@ZNYJ NAU^NO(B-(NISSLEDOWATELXSKIJ INSTITUT OPTIKO(B-(NFIZI^ESKIH IZMERENIJs ((NmOSKWA (B:s (Nwniiofi(B,s, 1987)
Keywords: (NoPTO\LEKTRONIKAs; (NfOTOGRAFIQ WYSOKOSKOROSTNAQ (B- (NtEZISY DOKLADOWs