TY - BOOK AU - Абрукин,Я.А. AU - Кристовский,Г.В. ED - Институт точной механики и вычислительной техники им. С.Л. Лебедева АН СССР TI - Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ: Доклад на конференции молодых специалистов и ученых Ин-та точной механики и вычисл. техники АН СССР им. С. А. Лебедева PY - 1976/// CY - Москва PB - Б. и. KW - Запоминающие устройства N1 - Библиогр.: с. 17 ER -