Kopaczynska, Marta Mikroskopia sił atomowych (AFM)-biomedyczne zastosowanie pomiarow w nanoskali / Marta Kopaczynska. - Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2010. - 117 p. : ill., tabs. Bibliogr.: p. 103-112 ISBN: 9788374935142 Subjects--Topical Terms: Atomic force microscopy