Fundamental Scientific Library of NAS RA

Точечные дефекты в полупроводниках : Экспериментальные аспекты / Ж. Бургуэн, М. Ланно ; Пер. Ю.М. Гальперина и др. ; Под ред. В.Л. Гуревича.

By: Contributor(s): Material type: TextTextLanguage: Russian Publication details: Москва : Мир, 1985.Description: 304 с. : ил. ; 21 смSubject(s):
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Item type Current library Collection Call number Status Notes Barcode
Գրքեր / Books Գրքեր / Books Fundamental Scientific Library General PII/631516 (Browse shelf(Opens below)) Available 30 Days Loan 120631516
Գրքեր / Books Գրքեր / Books Fundamental Scientific Library General PII/548158 (Browse shelf(Opens below)) Available 30 Days Loan FL0142401

Список лит.: с 289-297

Оригинал на англ. : Point Defects in Semiconductors II. Experimental Aspects / J. Bourgoin, M. Lannoo- Berlin : Springer-Verlag : 1983

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share


ՀՀ ԳԱԱ հիմնարար գիտական գրադարան
ՀՀ,Երևան 0019
Մարշալ Բաղրամյան 24/6
հեռախոս:(374-10) 52-47-50
Հետադարձ կապ

All site content, except where otherwise noted, is licensed under a
Creative Commons License