Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. / Международная электротехническая комиссия.
Material type:
Contents:
Ч. 2 (1978, 11 с., ил.) Испытания. Испытание Z/AMD: Комбинированно-последовательное испытание на воздействие холода, пониженного атмосферного давления и влажного тепла
Item type | Current library | Collection | Call number | Vol info | Status | Notes | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
Fundamental Scientific Library | General | PII/415989 (Browse shelf(Opens below)) | Ч. 2 | Available | 30 Days Loan | FL0430623 |
Ч. 2 (1978, 11 с., ил.) Испытания. Испытание Z/AMD: Комбинированно-последовательное испытание на воздействие холода, пониженного атмосферного давления и влажного тепла
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.