Normal view MARC view ISBD view

Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович.

By:

Contributor(s):

Material type: Text

TextLanguage: Russian Series: Измерения в электроникеPublication details: Москва : Радио и связь, 1985.Description: 264 с. : ил. ; 20 смSubject(s):

Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.

Average rating: 0.0 (0 votes)

Holdings
Item type	Current library	Collection	Call number	Status	Notes	Barcode
Գրքեր / Books	Fundamental Scientific Library	General	PII/532049 (Browse shelf(Opens below))	Available	30 Days Loan	FL0168648
Գրքեր / Books	Fundamental Scientific Library	General	PII/532421 (Browse shelf(Opens below))	Available	30 Days Loan	FL0168275

Browsing Fundamental Scientific Library shelves,Collection: General Close shelf browser (Hides shelf browser)

Previous								Next
Previous	PII/532034 Повести и рассказы /	PII/53204 Все силы - на успешное осуществление исторических решений XXII съезда КПСС : Речь на Совещании работников сел. хозяйства Узбекистана, южн. областей Казахстана, Таджикистана, Туркменистана, Киргизии и Азербайджана в г. Ташкенте 16 ноября 1961 г. /	PII/532044 Управление техническим развитием производственных систем : (Экономико-математический аспект моделирования) /	PII/532049 Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур /	PII/53205 Самоотверженный труд во имя торжества коммунизма - долг каждого советского человека : Речь на Совещании работников сел. хозяйства Сибири 26 ноября 1961 г. в г. Новосибирске/	PII/532060 Таллинский дневник /	PII/532066 Опустынивание : Cтратегия борьбы /	Next

There are no comments on this title.

to post a comment.