Normal view MARC view ISBD view

Эллипсометрия - метод исследования поверхности /

Эллипсометрия - метод исследования поверхности / АН СССР. Сибирское отд-е. Ин-т физики полупроводников ; Отв. ред. А.В. Ржанов. - Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние , 1983. - 180 с.

ISBN: 3.00

Subjects--Topical Terms:
Физика

Place hold
Print
Cite
Add to your cart (remove)
Send to device
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org) ARAR ARMUNICAT HAYGIRK